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组件测试
测试的目的是对电池的输出功率进行标定，测试其输出特性，确定组件的质量等级。目前主要就是模拟太阳光的测试Standard test condition（STC），一般一块电池板所需的测试时间在7-8秒左右。
光伏电站简介与收益模式
并网光伏电站可利用符合条件的闲置地面或厂房屋顶等闲置空间来建设光伏发电项目，并网接入方式按照当地电力公司设计方案实施。
并网光伏电站可分为地面集中式光伏电站、屋顶分布式光伏电站和微型光伏系统等。地面集中式光伏电站一般利用荒山、沼泽、滩涂、工业废弃用地等未利用土地，经国家相关单位批准建设的大型地面集中式光伏电站项目；屋顶分布式光伏电站一般可利用大型厂房或建筑物的屋顶可利用面积，来建设分布式光伏发电项目；微型光伏系统一般指单位或个人利用自己有限的闲置屋顶或其他可利用空间，建设微型（一般在50kW 以下）光伏离网或并网系统。
电位诱发衰减效应（PID，PotentialInduced Degradation）是电池组件长期在高电压作用下，使玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷狙击在电池片表面，使得电池表面的钝化效果恶化，导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时，会引起一块组件功率衰减50%以上，从而影响整个组串的功率输出。高温、高湿、高盐碱的沿海地区易发生PID现象。
造成组件PID现象的原因主要有以下三个方面：
系统设计原因：光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的，这就造成在单个组件和边框之间形成偏压，组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件，通过有变压器的逆变器负极接地，消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生，但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本；
电池片原因：电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。
上述引起PID现象的三方面中，由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认，但在组件和电池片两个方面组件产生PID现象的机理尚不明确，相应的进一步提升组件的抗PID性能的措施仍不清楚。
3电池片隐裂
光伏组件原因：高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流，封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯（EVA）是实现组件抗PID的方式，在使用不同EVA封装胶膜条件下，组件的抗PID性能会存在差异。另外，光伏组件中的玻璃主要为钙钠玻璃，玻璃对光伏组件的PID现象的影响至今尚不明确；
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