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当光伏组件出现问题时,局部电阻升高,该区域温度就会升高。EL测试仪就像我们体检中的X光机一样,可以对光伏组件进行体检——通过红外图像拍摄,根据温度不同,图像呈现不同的颜色,从而非常容易的发现光伏组件的很多问题:隐裂、热斑、PID效应等。
光伏组件在运输、搬运、安装等过程中,容易被踩踏、撞击,导致组件产生不易察觉的隐裂,影响组件输出功率。用EL变可以检测出来,如下图。
下图为热斑现象的红外照片(图片来自于TUV-Rheinland),红点部分为产生热斑处。
下图为PID效应的红外照片, PID效应严重的电池片发黑。
除了上述检测外,对组件的外观检查也非常重要。如组件背板划痕、变黄、鼓泡,连接器脱落等。
电位诱发衰减效应(PID,PotentialInduced Degradation)是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时,会引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个组串的功率输出。高温、高湿、高盐碱的沿海地区易发生PID现象。
隐裂是电池片的缺陷。由于晶体结构的自身特性,晶硅电池片十分容易发生破裂。晶体硅组件生产的工艺流程长,许多环节都可能造成电池片隐裂(据西安交大杨宏老师的资料,仅电池生产阶段就有约200种原因)。隐裂产生的本质原因,可归纳为在硅片上产生了机械应力或热应力。